小探針,大學(xué)問(wèn),半導(dǎo)體測(cè)試貫穿IC全產(chǎn)業(yè)鏈,探針該如何選擇?
文章出處:行業(yè)資訊 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2022-07-11 20:12:00
標(biāo)簽:雙頭探針 華榮華 半導(dǎo)體測(cè)試針
眾所周知,半導(dǎo)體測(cè)試作為半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、封裝、測(cè)試流程中的重要步驟,貫穿IC全產(chǎn)業(yè)鏈,重要性不言而喻。
半導(dǎo)體測(cè)試通過(guò)使用測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、探針機(jī),確保了生產(chǎn)的芯片達(dá)到要求良率,降低成本浪費(fèi),提供有效測(cè)試數(shù)據(jù),幫助改善設(shè)計(jì)與制造。
華榮華深耕半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域數(shù)十年,致力于設(shè)計(jì)研發(fā)精密探針和芯片測(cè)試插座,儒儒今天便帶大家了解探針的世界!
Robotzone什么是測(cè)試探針?
測(cè)試探針廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體(IC)及電路板(PCB)測(cè)試領(lǐng)域,探針被安裝在 插座或夾具內(nèi)部,插座或夾具安置在被測(cè)物和測(cè)試基板的中間,探針連接被測(cè)物 與測(cè)試基板,通過(guò)傳輸一定電流和頻率來(lái)判定被測(cè)物是否合格。
IC測(cè)試探針為了檢測(cè)半導(dǎo)體IC的性能,我們使用彈簧探針。
讓探針的頂端針頭與IC的被測(cè)點(diǎn)(Pad、Ball等)接觸,尾部針頭與被測(cè)基板觸點(diǎn)接觸,通過(guò)傳輸一定電流和頻率來(lái)判定被測(cè)物是否合格。
電路板(PCB)檢測(cè)探針電路板(PCB)探針一般與套管一起配合使用,用來(lái)檢測(cè)電路板(光板PCB)的導(dǎo)通測(cè)試。也可以用于已經(jīng)貼裝了器件的實(shí)物板(ICT\FCT)檢測(cè)。
Robotzone測(cè)試探針family在選擇探針型號(hào)時(shí),我們往往依據(jù)測(cè)試探針的間距、選擇待測(cè)對(duì)象合適的頭型、測(cè)試承載的電流、測(cè)試運(yùn)動(dòng)的行程以及需要選擇的彈力等維度。
華榮華測(cè)試探針最小間距0.25P,多種探針top設(shè)計(jì),多種探針結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),滿足多樣封裝測(cè)試要求。
華榮華專注于探針和芯片測(cè)試插座設(shè)計(jì)研發(fā),可承接各種規(guī)格探針定制,滿足客戶需求,目前產(chǎn)品已經(jīng)成功應(yīng)用于多家國(guó)內(nèi)外大中型企業(yè),協(xié)助客戶提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低人工成本,提升生產(chǎn)效率方面做出了大量貢獻(xiàn)。
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